1. Microscopy of materials : modern imaging methods using electron, X-ray, and ion beams
پدیدآورنده : Bowen, D. Keith )David Keith(
موضوع : Microscopy ، Materials
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
2. X-ray metrology in semiconductor manufacturing
پدیدآورنده : Bowen, D. Keith )David Keith(
کتابخانه: كتابخانه مركزي دانشگاه صنعتي شريف (طهران)
موضوع : ، Semiconductors-- Design and construction Quality control,، Integrated circuits-- Measurement,، Semiconductor wafers-- Inspection,، X-rays-- Diffraction,، Fluroscopy
رده :
TK
7874
.
58
.
B69
2006
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)